产地:日本; 品牌:理学
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X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线,它包含了被分析样品化学组成的信息,通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光分析仪。
Rigaku ZSX Primus III +以很少的标准在各种样品类型中快速定量测定从氧气(O)到铀(U)的主要和次要原子元素。高于光学元件的管道,可靠性更高ZSX Primus III +具有创新的光学上述配置。由于样品室的维护,再也不用担心被污染的光束路径或停机时间。光学元件以上的几何结构消除了清洁问题并延长了使用时间。
样品的高精度定位确保样品表面与X射线管之间的距离保持恒定。这对于要求高精度的应用很重要,例如合金分析。ZSX Primus III +采用独特的光学配置进行高精度分析,旨在限度地减少样品中非平坦表面引起的误差,如熔融珠和压制颗粒
EZ扫描允许用户在未事先设置的情况下分析未知样品。节省时间功能只需点击几下鼠标并输入样品名称。结合SQX基本参数软件,它可以提供最准确,最快速的XRF结果。SQX能够自动校正所有的矩阵效应,包括线重叠。SQX还可以校正光电子(光和超轻元素),不同气氛,杂质和不同样品尺寸的二次激发效应。使用匹配库和完美的扫描分析程序可以提高准确度。
元素从O到U的分析
管道上方的光学器件使污染问题最小化
占地面积小,使用的实验室空间有限
高精度样品定位
特殊光学元件可减少曲面样品表面造成的误差
统计过程控制软件工具(SPC)
吞吐量可以优化疏散和真空泄漏率
Mini-Z S分析仪
台式波长色散型X射线荧光光谱仪XRF
理学热重差热分析仪TG-DTA
日本理学Rigaku 热重差热分析仪TG-DTA8122
日本理学大功率台式波长色散