矿物本身元素组成复杂,采用低真空扫描电镜成像显示平均原子序数的成像,EDS结果显示元素组成,确定元素成分后,采用拉曼光谱测量,就得到样品的化学成分。三者互相印证,快速得到准确无误的信息。
联用系统优势:
原位测量。无需在不同仪器之间移动样品,节约时间,保证正确的分析区域。
inVia和SEM可同时作为独立系统使用,而不会影响两者的任何性能。
得到丰富的样品信息。使用SEM记录样品的高分辨图像,并进行元素分析。增加拉曼分析样品化学信息的能力,以识别材料和非金属化合物。
还可进行光致发光(PL)和阴极射线发光(CL)光谱测试。
雷尼绍SCA接口具有非常高的普适性,可以配备到您现有的SEM上,基本不需要对SEM进行改装。SCA可以安装到所有主要供应商提供的SEM上,包括:
Zeiss
FEI
TESCAN
JEOL
Hitachi