型号：NX2000
品牌：日立
产地：日本
| 产地： | 亚洲 |
|---|---|
| 供应商性质： | 一般经销商 |
| 产地类别： | 进口 |
| 价格范围： | 100万-200万 |
日立 FIB-SEM三束系统NX2000
产品介绍：
追求最完美的TEM样品制备工具
在尖端设备及高性能纳米材料的评价和分析领域，FIB-SEM已成为不可或缺的工具。
近来，目标观察物更趋微细化；更薄，更低损伤样品的制备需求更进一步凸显。
日立高新公司，整合了高性能FIB技术和高分辨SEM技术，再加上加工方向控制技术以及Triple Beam?＊1（选配）技术，推出了新一代产品NX2000
产品特点：
运用高对比度，实时SEM观察和加工终点检测功能，可制备厚度小于20 nm的超薄样品
FIB加工时的实时SEM观察＊2例
样品：NAND闪存
加速电压：1 kV
FOV：0.6 μm
