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XRF镀层测厚仪M系列
面议参考价
XRF镀层测厚仪M系列
PIPES指数:7.8用户:应用:

型号型号:M系列

品牌品牌:鼎极天电子

产地产地:中国

深圳市鼎极天电子有限公司

核心参数
产地: 中国大陆
供应商性质: 生产商
产地类别: 国产
价格范围:
涂镀层及薄膜测厚仪产品推荐
产品描述

M系列可满足以下类型用户的需求:
非常小的样品,主要应用于半导体,连接器或PCB领域
需要测试多个样品的多个位置
非常薄的涂层(<100nm)
需要在短时间内完成测量(1-5秒)
保证符合IPC-4552A,4553A,4554和4556
ASTM B568,DIN 50987和ISO 3497
渴望升级旧的XRF的性能和效率–并获得丰厚的以旧换新奖励

产品详情

M系列 是用于最小特征的高性能电镀厚度测量的终极产品。 M系列中的多毛细管光学元件比 O系列,将 X 射线束聚焦到 7.5μm FWHM。 为了在该尺度上测量特征,包括具有更高数码变焦的 150 倍放大率相机。 随着放大倍数的增加,视野变得更加受限,因此第二台相机拍摄要测量的零件的宏观图像。 双摄像头系统允许操作员查看整个零件,单击图像以使用高磁力摄像头放大,并精确定位要测量的特征。

高精度可编程XY平台可用于选择和测量多个点; 模式识别软件也可以自动执行该操作。2-D连续扫描功能可查看硅片等部件表面区域的涂层形貌。

标准配置包括7.5μm光学器件和高分辨率SDD检测器,用于处理更高的计数率。 可编程XY样品台也是标准配置。 光学系统的焦距很近,因此使用M系列测量的样品必须平坦。

性能表现

 镍钯金化学镍
 微米金微米钯微米镍微米NiP微米%P
Ave0.0430.083.7210.20210.17
StdDev0.00050.00090.000100.10890.29
Range0.00150.00300.0400.38630.9900
%RSD1.05%1.13%0.03%1.07%2.85%

产品规格

机型对比

X射线管:50W钼靶射线管 15um毛细管光学结构
探测器:135eV分辨率的硅漂移探测器
分析层数
及元素数:
5层(4层+基材) 每层可分析10种元素,成分分析最多可分析25种元素
滤波器/准直器:4位置一次滤波器
焦距:固定为0.05英寸(1.27毫米)
数字脉冲处理:4096 多通道数字处理器,自动死时间和逃逸峰校正
计算机:联想商用i5控制电脑(Win10 简体中文),显示器,彩色喷墨打印机
相机:1/4英寸(6毫米)CMOS-1280×720 VGA分辨率,在250毫米(45英寸)屏幕上,双摄像头为381倍,单摄像头为15倍
视频放大倍率:250X:配备双摄像头45X:15上的单摄像头“屏幕
电源:150W,100-240V,频率范围为47Hz至63Hz
工作环境:温度介于68°F(20°C)与77°F(25°C)之间,相对湿度小于98%,无冷凝
重量:70kg
可编程XY平台:工作台尺寸:431毫米(17英寸)x 406毫米(16英寸)| 行程:165毫米(6.5英寸)x 165毫米(6.5英寸)高精度
现在可用 扩展 舞台选择
样品仓尺寸:高度:137mm(5.4"),宽度:310mm(12"),深度:340mm(13")
外形尺寸:高度:500mm(20"),宽度:450mm(18"),深度:600mm(24")


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