型号:In-situ series
品牌:堀场HORIBA
产地:法国
Bruker椭偏仪 FilmTek 6000 PAR-SE
HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪椭偏仪UVISEL 使用椭圆偏振光谱仪表征封装应用中的势垒层
HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪椭偏仪UVISEL 使用椭圆偏振光谱仪表征铁电薄膜PbZr1-xTixO3&BA1-xSrxTiO3
在镀膜或刻蚀的过程中,实时监测样品膜的膜厚以及光学常数(n,k)变化。
技术参数:
·可实现快速、实时在线监测样品膜层变化
主要特点:
将激发和探测头引入生产设备,可实现:
· 动态模式:实时监测膜厚变化
· 光谱模式:监测薄膜的界面和组分
2022-11-23 15:52
IGA array 探测器
Horiba PH110/ph120/ph130 便携式PH计 用于环保领域
HORIBA.AutoSE.全自动快速椭偏仪
HORIBA XelPlex全自动表面等离子共振成像仪