吉恩纳能散型XRFTX 2000可以用在汽油/柴油/重油行业领域，用来检测油品，可完成常规元素项目。符合多项行业标准TXRF。

高沸点石油化工物质及其衍生物中痕量元素的检测是一项挑战性工作，样品测量结果与样品前处理息息相关。前处理方法包括稀释样品，灰化法分解样品，湿法分解样品等。溶剂稀释是一种快速、简单的方法，但是稀释样品,由于基体效应等因素很容易造成测量结果误差过大,并且由于样品的稀释，容易导致样品中本来就含量很低的目标元素低于仪器的检出限，从而造成该元素无法检测出。

仪器简介

TXRF(全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法，但与X射线能谱形成对比的是，传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品，而TXRF采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种近于切线方向的入射角，原级X光束几乎可以全部被反射，照射在样品表面后，可以很大程度上避免样品载体吸收光束和减小散射的发生，同时减小了载体的背景和噪声，亦可减少样品使用量。

TX2000 将全反射和传统的能量色散集成在同一台仪器上，创新光学编码器的步进电机，保证精确角度测量，软件控制Mo/W靶可自由切换，采用高分辨、低背景的帕尔贴控温硅漂移检测器。

应用范围

TX2000 可检测从钠Na到钚Pu所有元素含量，可进行痕量或超痕量元素分析（ppt或pg），广泛的应用在环境分析（水、灰尘、沉积物、大气悬浮物），制药分析（生物体液和组织样品中的有害元素），法医学（微小证据分析），化学纯度分析（酸、碱、盐、溶剂、水、超纯试剂），油品分析（原油、轻质油、燃料油），染料分析（墨水、油漆、粉末），半导体材料分析（挥发相分解），核材料工业（放射性元素分析）。

主要特点
■ 单内标校正，有效简化了定量分析，无基体影响；
■ 对于任何基体的样品可单独进行校准和定量分析；
■ 多元素实时分析，可进行痕量和超痕量分析；
■ 不受样品的类型和不同应用需求影响；
■ 独特的液体或固体样品的微量分析，分析所需样品量小；
■ 优良的检出限水平，元素分析范围从钠覆盖到钚；
■ 出色的动态线性范围；
■ 无需任何化学前处理，无记忆效应；
■ 非破坏性分析，运行成本低廉。