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X射线衍射XRDARE X吉恩纳 YB∕T 5338—2006方法测试奥氏体含量的误差影响
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X射线衍射XRDARE X吉恩纳 YB∕T 5338—2006方法测试奥氏体含量的误差影响
PIPES指数:7.5用户:应用:

型号型号:ARE X

品牌品牌:吉恩纳

产地产地:意大利

利曼中国

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核心参数
X射线衍射仪(XRD)产品推荐
产品描述

吉恩纳X射线衍射XRDARE X可用于测定钢铁,适用于奥氏体项目。并且参考多项行业标准。可应用于地矿/有色金属行业领域。

X射线衍射仪用Schulz反射法进行残余奥氏体含量测量,在测量过程中,试样表面与X射线的聚焦平面重合,而且试样在测量的过程中固定不动,通过θ和2θ 轴的转动(满足Bragg方程)来完成测量,这时所测量的只是平行于试样表面的那些晶面的衍射信息。

仪器简介

X 射线衍射法是测量钢体中残余奥氏体含量的有效方法,而且是能够测量残余奥氏体百分比含量低至0.5%的方法。根据 ASTM E975 的X射线测量近无规结晶取向钢中残余奥氏体的标准方法,ARE X 能够很轻松检测出钢体中残余奥氏体的含量,同时具有良好的检出限、精度高、准确度好等优点,并且操作简单,安全高效。



主要特点
■ 可测奥氏体220/311、铁素体200/211的衍射峰值强度,符合 ASTM E975 国际标准;
■ 多衍射峰测量方式能够减少晶体优化取向带来的影响;
■ 使用精密的自动反馈控制电路获得很高的X射线发生器稳定性;
■ 自动调整高电压与电流输出脉动值;
■ 配备大功率、优质的玻璃(陶瓷)X 射线管;
■ 高聚焦单毛细管准直器,高分辨率CCD探测器。


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