吉恩纳 全反射X荧光光谱仪HORIZON适用于核元素项目，参考多项行业标准TXRF。可以检测核材料等样品。可应用于煤炭行业领域。

全反射X射线荧光技术(TXRF)是能量色散型X射线荧光(EDXRF)技术的高级变体，是一种相对较新的材料表征技术。与EDXRF相比，TXRF的几何改进导致检测极限提高了几个数量级。 TXRF主要用于三类应用：痕量元素分析，微观分析和深度剖析。 TXRF有吸引力的特点是其在核科学与技术领域的应用，因为分析所需的样品量非常少，所以产生的放射性废物少，工作人员接触的剂量也小。此外，低检测限、多元素分析能力以及金属和非金属元素的分析使得这种技术对于核材料的表征具有很大优势。基于上述特点，印度巴巴原子研究中心(BARC) 燃料化学部门于2003年安装TXRF光谱仪，至今已经有多项研究使用此仪器对不同的核材料进行了表征。

TXRF(全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法，但与X射线能谱形成对比的是，传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品，而TXRF采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种近于切线方向的入射角，原级X光束几乎可以全部被反射，照射在样品表面后，可以很大程度上避免样品载体吸收光束和减小散射的发生，同时减小了载体的背景和噪声，亦可减少样品使用量。

HORIZON 配备了12位样品台自动测量，创新光学编码器的步进电机，保证精确角度测量，采用高分辨、低背景的帕尔贴控温硅漂移检测器。广泛应用在环境分析、制药分析、法医学、化学纯度分析、油品分析、染料分析、半导体材料及核材料工业分析领域。

主要特点
■ 单内标校正，有效简化了定量分析，无基体影响；
■ 对于任何基体的样品可单独进行校准和定量分析；
■ 多元素实时分析，可进行痕量和超痕量分析；
■ 不受样品的类型和不同应用需求影响；
■ 独特的液体或固体样品的微量分析，分析所需样品量小；
■ 优良的检出限水平，元素分析范围从钠覆盖到钚；
■ 出色的动态线性范围；
■ 无需任何化学前处理，无记忆效应；
■ 非破坏性分析，运行成本低廉。

仪器简介