仪器简介：

 标准模式
 工业规格
 手动样品台
 自动调焦
 

技术参数：

活动面积：86.4 x 64.8㎛
波长范围：420~640 nm
厚度测量范围：350Å~3㎛ 
zei小光斑尺寸：1.35㎛,0.135㎛
透镜旋转台：5X,50X
可测量层：1
样品台尺寸：200mmX200mm
Z轴可重复性：± 1㎛
Z轴自动调节结构：
Z direction Head Movement 
Travel range : 50mm 
Max. velocity : 50mm/s

主要特点：

非接触式，非破坏式

3D测量图像

可测量亚微米光斑

实样监控

易操作界面

应用领域：

 主要用来测量PCB/PWB板铜箔上的OSP薄膜