梅特勒--XS微量天平
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梅特勒--XS微量天平

产品属性

  • 品牌梅特勒-托利多/METTLER TOLEDO
  • 产地瑞士
  • 型号XS微量天平
  • 关注度14
  • 信息完整度
  • 产地欧洲
  • 供应商性质一般经销商
  • 产地类别进口
  • 仪器种类微量/超微量天平
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产品描述

技术参数:

型号

zei大称量值[g]

可读性[mg]

重复性(sd)[mg]

线性误差[mg]

典型稳定时间[s]秤盘尺寸[mm]
XS3DU0.8/3.1

0.001/0.01

0.0008/0.006

0.016Ø27



性能特点:

  • 采用分离的称量单元和显示控制单元,避免电子元件散热对称量结果准确性的影响

  • 优化天平适应性的称量参数设置,满足不同称量环境要求

  • 丰富的内置称量应用程序:基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测量、动态称量

  • GWPExcellenceTM一体化安全功能,确保天平始终正确工作


选配件:

  • 滤纸称量组件:满足汽车或环保行业对于气体颗粒物含量的精确称量

  • 小型U型去静电装置:有效减少静电荷对称量结果准确性的影响

东南科仪

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