JED-2300T 能谱仪
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JED-2300T 能谱仪

产品属性

  • 品牌日本电子
  • 产地日本
  • 型号 JED-2300T
  • 关注度1433
  • 信息完整度
  • 产地亚洲
  • 供应商性质生产商
  • 产地类别进口
  • 仪器种类
  • 价格范围
关闭
产品描述
  • JED-2300T 能谱仪

  • JED-2300T AnalysisStation是以“图像观察和分析”为基本理念的TEM/EDS集成系统。在分析数据过程中,自动采集电镜主机的倍率、加速电压等参数,进行数据管理。

产品特点:

  • AnalysisStation
    JED-2300T AnalysisStation是以“图像观察和分析”为基本理念的TEM/EDS集成系统。在分析数据过程中,自动采集电镜主机的倍率、加速电压等参数,进行数据管理。

  • 硅漂移检测器(以下简称SDD)的检测面积有30mm2、60mm2和100mm2三种。检测面积越大,检测灵敏度越高。JEM-ARM200F(HRP)配合使用DRY SD100GV检测器(检测面积为100mm2),可同时实现大受光面积和高分辨率, 可以清楚地识别B、C、N、O等轻元素。

  • Dry SD100GV

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    Dry SD100GV

  • 快速元素面分析

  • DRYSD100GV检测器的灵敏度极高,测试Au催化剂颗粒只需一分钟。

  • 上图: 样品 负载在Ti氧化物上的Au催化剂颗粒
    装置: JEM-ARM200F + DRYSD100GV检测器
    测试时间: 大约1分钟 
    束流电流: 1nA
    像素数: 256x256像素

  • 实现原子分辨率的面分析

  • Sr和Ti的原子列被清楚地分离开来。

  • 上图: 样品 SrTiO3<100>
    装置: JEM-ARM200F + DRYSD100GV检测器
    测试时间: 大约10分钟
    束流电流: 1nA
    像素数: 128x128像素

  • play Back(回放)功能

  • 用JEOL制造的EDS采集的元素面分布图,不仅保存了每一帧中各个像素点的谱图,还对每一帧中电子束形成的图像进行了存储。利用play back功能,可以进行多角度的分析如观测谱图等随时间的变化等。测试后数据能够回放,可以观察到样品按时间顺序发生的变化,这是至今为止无法实现的。此外,利用play back功能还可以截取任意指定的画面。

  • 上图: 装置 JEM-2800+DRYSD100GV检测器
    样品: 岩盐
    像素数: 128x128
    提取的帧号: 398帧s


日本电子株式会社(JEOL)

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  • 北京北京交通大学

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