霍尔效应测试系统（霍尔效应测试仪）HET-3RT依据范德堡法则测量材料的电运输性能参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或薄层材料均可测量，可应用于所有半导体材料，包括Si、ZnO、SiGe、SiC，GaAs，InGaAs，InP，GaN（N型&P型均可测量）,广泛应用于国内高校、研究所、半导体、金属、高热导有机新材料等行业。

产品特点

● 自主知识产权产品。

● 采用高精密度恒流源和电压表，确保仪器测试的良好准确度和高稳定性，性能优越。

● 自动控制磁场方向的改变，更加方便准确。

● 样品装夹方式快速方便，且使用能够解决欧姆接触的样品芯片。

● 产品工业外观采用一体化、精密化设计，融入人性化的设计理念，不仅赏心悦目而且操作方便。

● 智能化的用户界面操作简单，功能齐全的软件平台带给客户友好的操作体验，使测试过程更加方便快捷。

产品技术参数

产品应用

● 判断半导体材料类型

● 太阳能电池片的制程辅助

● 晶圆电性能的判断

● 热电材料研究