型号:JEM-F200
品牌:日本电子
产地:日本
产地: | 亚洲 |
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供应商性质: | 生产商 |
产地类别: | 进口 |
仪器种类: | 场发射 |
价格范围: | 800万-900万 |
[分辨率] | |
STEM | 0.16 nm (200 kV) |
TEM (晶格, 点) | 0.19 nm (200 kV) |
0.10 nm (晶格, 200 kV) | |
[放大倍率] | |
STEM | x 20,000 ~ x 200,000,000 |
TEM | x 200 ~ x 1,500,000 |
[电子源] | |
电子源 | 热场或冷场 |
加速电压*2 | 800, 200 kV |
[稳定度] | |
加速电压 | ≦5 x 10-7/min |
物镜电流 | ≦5 x 10-7/min |
[样品系统] | |
样品台 (测角仪) | 全对中样品台 |
样品尺寸 | 3 mmφ |
最大倾斜角 | ±90度 |
行程范围 (mm) | X, Y: ±1 Z:±0.2 |
[选配] *4 |
*1 : 如有特殊要求请另行咨询。
*2 : 其它加速电压, 请另行咨询。
*3 : 该角度高度依赖于样品架的物理尺寸. 请另行咨询。
*4 : 如有特殊要求请另行咨询
JEM-F200 场发射透射电子显微镜
以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜,不仅提高了空间分辨率和分析性能,还采用了新的操作系统可满足多种使用途径,易用性强,外观设计精炼,能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。
高端扫描系统
JEM-F200可以实现大视野的STEM-EELS分析,该设备在常规的照明系统的电子束扫描功能之上,增加了新的扫描系统-“Advanced Scan System” 即成像系统的电子束扫描功能(选配)。
皮米样品台驱动
JEM-F200 采用能以皮米级步长移动样品台的Pico stage drive(不用压电驱动),能在宽动态范围移动视野-从样品的整个栅网视野移动到原子级图像视野移动都能进行。
SpecPorter(自动插入和拔出样品杆的装置)
插入和拔出样品杆,对电镜初学者来说一直是高难度的操作。 JEM-F200配备的SpecPorter,即使新手也能轻松掌握,将样品杆安装在指定的位置上,只用一个按钮即能安全地插入或拔出。
改进的冷场发射电子枪
JEM-F200能安装高稳定性、高亮度和高能量分辨率的冷场发射电子枪(选配),该枪的利用可以进行EELS化学结合状态分析,高亮度的电子束缩短了分析时间,并且还降低了来自光源的色差,实现了高分辨率的观察。
双能谱(SDD)
JEM-F200能同时安装两个大口径、分析灵敏度高的硅漂移检测器(SDD)(选配件)。 凭借更高的灵敏度,EDS分析速度更快,对样品的损伤更小。
环保节能
JEM-F200是第一个标配了ECO模式的透射电子显微镜。ECO模式系统能将能源消耗降低到正常模式时的1/5,可以在装置不运行时,以最小的能耗保持着电镜的最佳条件。该设备具有排程功能,能在指定的时间将电镜从ECO模式恢复到工作状态。
外观设计精炼
精炼的外型,全新的视觉感受。
为分析型电镜全新设计的GUI,使操作更加直观方便。
JEOL长年积累的丰富经验在设计上得到了充分的体现,与旧机型相比,电镜的机械性和电气稳定性都得到了很大的提高。
四级聚光镜系统
现在的电子显微镜需要支持范围广泛的成像技术--- 从明场/暗场的TEM成像到使用各种检测器的STEM技术。 该设备采用新型四级聚光镜照射光学系统-“Quad-Lens condenser system”,通过分别控制电子束强度和汇聚角,能满足各种研究的需求。