产品描述
本次开发的UH4150AD+（Advanced Spec Plus）是在延续了作为光学元件的光谱特性检测设备UH4150 系列的基础上，提升了其在近红外区域光谱特性测量性能，成为在先端行业很流行的测量光学元件的理想设备。
近红外区
在近红外区域安装了高灵敏度的 InGaAs 探测器。 直入射探测器通过安装集成放大器的探测器实现低噪声，并支持近红外区域7Abs的测光范围。
紫外可见区
紫外可见区沿用了旧型号*1，测光范围为８Abs。
另外，UH4150AD+采用了灵敏度更高的光电倍增管，可以依据样品的光学特性灵活选择检测器的切换波长。
凭借紫外・可见・近红外区宽的测光范围，非常适合评价近红外型光学元件，如自动驾驶等的传感设备LiDAR*2等光学元件及智能手机摄像头的滤光片、人脸识别滤光片等。
在测定固体样品的正反射时，入射角很重要。对于聚集光束，入射角会随焦距的变化而变化，从而造成导电多层膜和棱镜等光学薄膜预测值和实际值产生差异。
对于平行光束，所有样品的入射角都是近似于平行的，因此可以高精度测定正反射。另外，平行光束对于扩散性评价（雾度）、镜头透过率测定也是有效的。
*1UH4150AD
*2使用标准积分球时
UH4150AD+增加的使用功能
数据模式 ：O.D.（Optical Density）展示
多扫描：根据不同的波长范围可进行扫描速度及减光板的设置
高分辨率测定：增加细分为4个阶段的高分辨率处理
（模式1）高分辨、中分辨、标准、低分辨
（模式2）ON和OFF (按照之前的处理)
减光板：能够自动插入5种规格的减光板
检测器校准：在基线校准时通过获取测定波长范围的0%T，
能够提高Abs数据的精度
高吸光度校准功能：针对测定数据波动的校准功能
（模式1）负透过率数据校准
（模式2）偏移校准
多功能扫描提高处理能力
由于滤光片包含了高透过率和低透过率的波长范围，使用者一直都是按照低透过率的扫描速度进行全部波长范围的扫描，所以花费时间较长。现在，通过新的多扫描功能，每次的测定可以根据不同的波长范围分别设定扫描速度等测试条件。之前需要15 min的检测通过多扫描功能只需要6.5 min就能完成，大大缩减了检测时间。
兼容多种UH4150附件。
通用附件适用于两种型号。UH4150型附件也可用在UH4150AD+型。
应用范例
微小样品透过率测定
微小样品透过率测定附件可用于像微型玻璃和摄像镜头等样品的透过率测定。
高吸光度溶液测试
高吸光度滤光片测试
规格
| 项目 | UH4150 Advanced Spec+ |
|---|---|
| 检测器 | 紫外・可见区间：光电增倍管、近红外区间：冷却型InGaAs |
| 可测定波长范围 | （直射光检测器附件） 185～1,800 nm （Φ60标准积分球附件） 240～1,800 nm 可设置的波长范围 175～2,000 nm |
| 分光器 | 光栅・光栅形双单色器 预单色器：使用光栅（2个可切换的衍射光栅）的Littrow单色器 主单色器：使用光栅（2个可切换的衍射光栅）的Czerny-Turner单色器 |
| 测光方式 | 双光束直接比率测光方式 （以日立独有的差速器反馈方式能够对负吸光度或者100 %以上的透过率／反射率进行测定） 紫外・可见区间：负电压控制方式及狭缝控制方式 近红外区间：狭缝控制方式及固定狭缝方式 |
| 测定模式 | 吸光度（Abs）、透过率（％T）、反射率（％R）、光学浓度 (O.D.) 参照能量（E(R)）／样品能量（E(S)） |
| 测光范围 | （直射光检测器附件） 吸光度；紫外・可见区间：-2～8 Abs、近红外区间：-2～7 Abs 透过率／反射率：0～999.99 （Φ60标准积分球检测器） 吸光度； 紫外・可见区间：-2～6 Abs、近红外区间：-2～5 Abs 透过率／反射率：0～999.99 |
| 测光正确性 | ±0.002Abs（0≦A＜0.5 Abs）、±0.004 Abs（0.5≦A≦1.0 Abs）、 ±0.3 %T、以NIST SRM 930为标准进行的测定 |
| 使用温度 | 15～35 ℃ |
| 使用湿度 | 25～80 %（不结露，温度大于25°时要小于70%） |
| 尺寸 | 宽度 900× 深度 760×高度 1,180 mm（不包括把手、螺钉部分）， 宽度 900×深度 791×高度 1,180 mm（包括把手部分） |
| 重量 | 160 kg |
滤光片的吸收谱图
