SU9000在低电压电子能量损失谱中的应用-应用文献-

方案摘要

电子能量损失谱（EELS）作为一种元素分析方法已经在透射电镜中被广泛使用。但是，传统的透射电镜由于电压过高，对于某些材料（如纳米材料、弱相位）进行EELS分析时会产生较大的损伤，或者无法显示足够的衬度，这类材料往往需要低电压（<30kV）的EELS分析。日立的SU9000既有扫描电镜的功能，同时又带有EELS和电子衍射等透射电镜的分析功能，很好的填补了透射电镜在低电压EELS和电子衍射方面的缺陷。