本技术说明介绍了新研究型原子力显微镜（AFM）Park FX40。以前，由于复杂的操 作和繁琐的处理使得原子力显微镜难以被广泛接受。而 FX40 通过引入智能扫描算法、全 自动探针操控、全自动系统校准检测和近针操作，以及多样品卡盘，能够帮助用户克服这 些障碍。FX40 以 XE 和 NX 系列 AFM 的串扰消除设计为基础，进一步提升了性能，提高了 生产效率，让每个人都可以使用。使用 FX40，只需点击几下，即可获得高清且有意义的 数据。额外的内置环境传感器开辟了新的应用空间，将在以后的出版物中进行介绍和讨论。 本技术说明将会描述整个的成像过程，并用实际应用示例进行了说明。