应用领域：其他，其他，其他，其他
检测样品：集成颗粒
检测项目：集成颗粒捕集技术
参考标准：-
方案摘要
很多分析人员都不愿将多孔层开管（PLOT）色谱柱用于 GC/MS 分析，因为这类色谱柱的填料颗粒可能会脱落，从而导致流路堵塞、色谱柱切换阀损坏或污染检测器。他们会尽量避免在气质联用分析中使用 PLOT 色谱柱，或是不得不采用繁琐复杂的方法。
现在，这种状况即将改变。Agilent J&W PLOT PT 色谱柱的两端采用了安捷伦专有的颗粒捕集技术。这项专利技术真正消除了颗粒脱落的问题，使石化行业更好地受益于 PLOT 色谱柱的分析性能。
