应用领域：电子/电器/半导体
检测样品：材料
检测项目：表面形貌
在过去的几十年中，原子力显微镜（AFM）已经深入参与了纳米尺度的研究和开发。虽然已被广泛使用，但对AFM数据的理解有时还是很麻烦，特别是对于新的AFM用户。原子力显微镜对各种力和效应的非凡敏感性使其不仅是一种多功能的研究工具，而且会容易于产生不同的伪影源。这些伪影可能来自于不正确的系统和实验设置，或者复杂的材料特性。
方案摘要
