使用 Agilent 7900 电感耦合等离子体质谱仪对纳米材料进行单颗粒分析-应用文献-

应用领域：纳米材料

检测样品：纳米材料

检测项目：对纳米材料进行单颗粒分析

参考标准：-

方案摘要

在本文中，我们使用 Agilent 7900 ICP-MS 测定单个NP 峰信号并对其性能进行了评估。7900 ICP-MS 拥有全新的正交检测器系统，积分时间可快至 100 μs，TRA 读数之间无需稳定时间，而且 TRA 模式的整体采集速度比 7700x快 30 倍，可实现瞬时信号的快速测量。