Features and Benefits of Pulsed RF GD OES for fast control of LED manufacturing process

应用领域:电子/电器/半导体,电子/电器/半导体

检测样品:LED

检测项目:GD-OES(Simultaneously Measures All Elements,Depth Resolution)

参考标准:None

方案摘要

脉冲式射频辉光放电光谱仪体可进行超快速元素深度剖析,并且对所有的元素都有高的灵敏度,是快速控制LED活性镀层的理想工具,它为快速反馈过程参数飘移提供了可能。

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