应用领域：电子/电器/半导体，其他，电子/电器/半导体，其他
检测样品：DVD featuring layers，Li batteries
检测项目：GD-OES(Depth Resolution， Sensitivity )
参考标准：None
UFS专利技术可对聚合物分子层进行超快速溅射，不仅增强了信噪比而且能够在超高深度分辨率下测试包埋在厚聚合物下的镀层。
方案摘要
