NexION 300S ICP-MS 测定硅晶片中的杂质 Application Note (010281_01_CN)

应用领域:电子/电器/半导体

检测样品:硅晶片

检测项目:测定硅晶片中的杂质

方案摘要

NexION 300S ICP-MS 测定硅晶片中的杂质 Application Note (010281_01_CN)

相关产品
店铺 下载
咨询留言 一键拨号