应用领域：电子/电器/半导体
检测样品：高纯度硅基质
检测项目：分析高纯度硅基质中的痕量污染物
使用NexION 5000 ICP-MS分析高纯度硅基质中的痕量污染物 Application Note (977083_CHN_01)
方案摘要
