使用NexION 5000 SP-ICP-MS分析半导体工艺化学品中的金属纳米颗粒 Application Note (902354_CHN_01)

应用领域:电子/电器/半导体

检测样品:金属

检测项目:分析半导体工艺化学品中的金属纳米颗粒

方案摘要

使用NexION 5000 SP-ICP-MS分析半导体工艺化学品中的金属纳米颗粒 Application Note (902354_CHN_01)

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