锂离子电池的正极材料目前主要有钴酸锂、锰酸锂、镍酸锂、磷酸铁锂

及锂钴锰镍复合氧化物，钴酸锂作为正极材料的锂离子电池主要应用于能量

密度要求高的移动电话、笔记本电脑等领域；但由于受到钴酸锂原料加工合

成工艺的影响，在合成过程中条件稍有变化就容易生成杂质，降低材料的储

能容量。另外，在锂电池的充放电循环过程中，由于铁等多种杂质元素的存

在常常导致材料晶体结构的塌陷，最终会严重的影响电化学循环寿命和带来

安全性的潜在因素。因此，能够准确测定钴酸锂电池材料中的杂质元素含量

将具有重要意义。

对于光谱分析而言，钴酸锂材料中的基体钴属于典型的富线光谱元素，其

波长分布范围由169.334 nm至935.7 nm共包含近900条发射谱线，几乎含盖了

所有分析元素的波长；因此，对于这类样品中微量的杂质元素分析而言，除了

将会受到基体效应干扰的同时还将会受到严重的光谱重叠干扰，这也意味着将

大大增加这些杂质元素分析的难度和必须选择更为合理的光谱分析方法。

本文采用 iCAP 6000 Series ICP-OES，通过对样品前处理方法、等离子

体参数、分析谱线选择、钴基体效应对锂元素所产生的信号抑制作用的影响

等内容进行了研究和优化，详细地介绍了钴酸锂电池材料中的主量元素锂及

20种杂质元素的方法研究报告。