Agilent 8800 ICP-MS/MS（采用 MS/MS 模式）可以准 确、高效地测定不同浓度（30 ppm 和 2000 ppm）高纯硅 基质中的 P、Ti 和其他痕量元素。所有元素的 BEC 和 DL 都非常低，MS/MS 模式可以确保将目标产物离子与其他 分析物生成的潜在干扰产物离子分离。这是 8800 ICP-MS/ MS 的 MS/MS 模式所独有的功能。即使在使用超低流量 雾化器的条件下，仍然可以获得优异的灵敏度和超低的检 测限，对于 2000 ppm Si 基质样品可连续测定超过 3 小 时，表明仪器具有出色的信号稳定性。