M2 BLIZZARD是布鲁克公司最新推出的一款微区X射线荧光光谱仪，依据ASTMB568和DIN/ISO 3497，对材料成分和多层涂层厚度进行无损分析。采用开槽设计，非常适用于扁平形状和尺寸过大的样品，例如大型印刷电路板。该仪器采用全新的、世界领先的XSpect Pro软件进行控制。PCB 分析的理想解决方案开槽台式微区XRF光谱仪 M2 BLIZZARD主要特性：1.开槽构型，带可伸长的“超大尺寸”样品台2.可以调节槽缝间隙（10或20毫米）3.设有大型、耐用的样品托盘，用于样品定位4.全新优化XSpect Pro操作软件5.最先进的XData软件用于应用程序，标准样品与数据库管理6.可自定义设置用户界面和测试结果界面7.具备波谱自动保存功能，用于测量后结果的再处理以及存档8.用户设定公差，可以方便地判定“合格/不合格”9.“峰值查找器”，用于定性分析未知样品10.软件含有测试报告模板以供客户编辑使用11.配置工业强度的脚踏开关，用于“开始/停止”测量（可选项）12.可完全设置SPC软件，配合客户工艺需求（可选项）13.仪器设计简洁坚固，只需一条USB电缆与PC连接开槽台式微区XRF光谱仪 M2 BLIZZARD技术参数

1.M2 BLIZZARD 的两种探测器选项。2.可选用比例计数器(PC)或高分辨率硅漂移探测器（SDD）3.激发:微焦点,高性能,带侧窗,钨靶4.探测器:大面积正比计数器，感应面积1100mm，能量分辨率<950eV（Mn-Ka）5.选配探测器:高性能Peltier冷却XFlash硅漂移探测器，感应面能量分辨率<150eV(Mn-Ka)6.光斑尺寸:固定或4个自由切换,Ø0.1到1.5mm;其他准直器:例如槽式7.样品视图:高分辨率彩色摄像系统,放大倍数~20倍8.定量分析:总体分析：基于标样的经验系数法模式,无标样的FP法(基本参数法)模式；镀层分析:FP-基本参数法模式9.样品台:手动塑料样品托盘;Z轴自动聚焦,行程:30mm10.供电:110/230VAC，50/60Hz，最大功率120W11.尺寸(宽x深x高):1055x688x430mm12.重量:75kg马上联系我们：021-37018108,info@boyuesh.com