我们通常只关心材料表面辐射的强度、空间分布及其光谱分布，样品外表面向整个半球空间发射的一切波长的

　　总辐射能与同温度下黑体辐射能之比称为半球辐射率，垂直于样品表面方向的辐射称为法向辐射。根据不同的

　　测试原理，辐射率测量方法通常分为量热法，反射率法，辐射能量法和多波长测试方法等。

　　辐射能量法即为在同一温度下用同一套光谱仪分别测试绝对黑体和样品的发射光谱曲线，两者进行积分比值就

　　是材料的辐射率值。此法有以下几个方面的限制：

　　1. 加热不均匀带来的黑体及样品表面的温度梯度对测量结果产生影响；

　　2. 无法理想控制黑体及样品在一个绝对相同的温度进行测量，1K 的温差将对测量结果产生几个百分点的误差；

　　3. 傅里叶变换红外光谱仪自身的噪声和周围环境将对较低温度及较低辐射率的测试产生影响。

　　由于以上限制，目前基于傅里叶变换红外光谱仪进行的黑体炉辐射测量系统的测量误差，大多在 3% 左右。

　　反射率法是依据基尔霍夫定律得出的辐射率测量方法，基尔霍夫定律用于描述物体的发射率与吸收比之间的关

　　系，在给定温度条件下，任何物体的辐射率在数值上等于此物体的吸收率。结合普朗克定律及维恩定律，直接

　　测试出的材料反射光谱就可以计算出材料在测试温度下的发射比，此方法操作简单，成本低廉，尤其是对于辐

　　射能量法难以测试的低发射率样品能够计算出材料的辐射率。