应用领域：原料药/中间体，生物制药/仿制药，地矿/钢铁/有色金属，电子/电器/半导体，电池/锂电池，原料药/中间体，生物制药/仿制药，地矿/钢铁/有色金属，电子/电器/半导体，电池/锂电池

检测样品：低表面积样品

检测项目：比表面积/表面特性

参考标准：H. Balard, M. Sidqi, E. Papirer, J.B. Donnet, A. Tuel, H. Hommel, A.P. Legrand, Study of modified silicas by inverse gas chromatography: Part II. Influence of chain length on surface properties of silicas grafted with a"N diols,