应用领域：橡胶，涂料，电子/电器/半导体，高分子材料
检测样品：光刻胶
检测项目：Si
使用ICP、ICP-MS分析时存在光学干扰，而仪器的结构又决定了Si的检出限比其他元素更高，所以为了分析低浓度的Si，必须去除光学干扰或更换仪器进样系统 ( 雾室、雾化器、中心管、炬管 )。
本实验的目的是利用NexION 的 DRC模式确定分析Si的最佳条件。
方案摘要
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