共聚焦拉曼逐层分析半导体4H-SiC载流子浓度和厚度信息

应用领域:电子/电器/半导体,电子/电器/半导体

检测样品:半导体4H-SiC

检测项目:载流子浓度和厚度信息

参考标准:Depth Profiling of Ion-Implanted 4H–SiC Using Confocal Raman Spectroscopy

方案摘要

1、利用共聚焦拉曼进行分析时,不同的激发光可以检测不同浓度的载流子信息,比如325 nm激光辐照可以检测低浓度载流子信息;

2、同样是在325 nm激光辐照下,样品内产生的光生载流子浓度会随着离子改性层中铝离子注入剂量的增加而减弱;

3、这些都表明了共聚焦拉曼在载流子浓度表征方面的便利与优势。

相关产品
店铺 下载
咨询留言 一键拨号