为了进一步促进电镜技术在学科中的应用，促进电子显微学学术交流和合作，推动电镜技术的发展。2017年11月10-13日，“2017年江苏省电子显微学会电镜分析学术研讨会”在江苏省扬州市成功举办，会议由江苏省分析测试技术协会电镜专业委员会、江苏省物理学会电镜专业委员会主办，江苏省电子显微学会、扬州大学测试中心承办。

扬州大学测试中心副主任周卫东教授主持了此次会议，江苏省电镜学会理事长、南京工业大学吕亿农教授为会议致辞。期间主要进行了电镜新技术、新应用以及实验室管理与评价等的交流，共20多个主题报告，90余位专家代表参会。TESCAN作为此次会议的特邀赞助商，出席并带来了“TESCAN在电镜技术领域的创新和应用”精彩报告。

2017年江苏省电镜会会场

TESCAN发源于全球最大的电镜制造基地-捷克Brno，有超过60年的电子显微镜制造历史，是电子显微镜和聚焦离子束领域的技术领导者。在此次电镜分析研讨会上，TESCAN公司市场部沈凌女士向参会代表们介绍了TESCAN在电镜技术领域的最新创新和应用拓展。

TESCAN中国市场部沈凌女士精彩报告

形貌、成分和结构信息的表征是科研和检测工作最重要的部分，电子显微镜作为“科学之眼”是微观分析中最重要的工具之一。目前电子显微镜的发展方向主要是在：高分辨能力、原位观测能力和分析能力三个方面。TESCAN作为全球知名的电镜显微分析仪器的制造商，提出了“All In One 综合显微分析平台”的理念，并给出了完善的解决方案。

TESCAN  All-In-One 综合显微分析平台

此外，沈凌女士向参会专家们着重介绍了TESCAN电镜-拉曼一体化、双束电镜-二次离子质谱一体化创新联用技术。

TESCAN首创的双束电镜-二次离子质谱联用技术（TOF-SIMS）是业内第一个将飞行时间二次离子质谱和SEM/FIB成功集成在一起，创新成为一体化系统。联用系统的创新打破了EDS及WDS的分析局限性，拥有更灵敏的检出限和更好的空间分辨率，在对轻元素的探测、同位素检测、深度剖析和化学结构解析应用中具有很大的优势。 

TESCAN  FIB-SEM-TOF-SIMS联用技术产品

另外，TESCAN首创的电镜-拉曼一体化系统（RISE）在微观观测和分析领域也带来了重大革新。电镜-拉曼一体化系统（RISE）很好地解决了例如传统拉曼光谱对样品平整度的苛刻要求以及光镜观察形貌结构分辨率的不足和信息单一等应用难题，并在联用导航、探测器适配以及软件分析应用上都有革命性的提高和拓展，目前已在地质、碳材料、纳米科技、矿物晶体、聚合物、半导体以及生命医药、医学、检测鉴定等领域有了丰富的应用。

TESCAN  SEM-Raman联用技术产品

关于TESCAN

TESCAN发源于全球最大的电镜制造基地-捷克Brno，是电子显微镜及聚焦离子束系统领域全球知名的跨国公司，有超过60年的电子显微镜研发和制造历史，是扫描电子显微镜与拉曼光谱仪联用技术、聚焦离子束与飞行时间质谱仪联用技术以及氙等离子聚焦离子束技术的开拓者，也是行业领域的技术领导者

领域：地矿/钢铁/有色金属,电子/电器/半导体,建材/家具,纺织/印染/服装/皮革,玩具/文体用品,汽车/铁路/船舶/交通,航空/航天,机械设备,纳米材料,高分子材料,生物质材料

标签：TESCAN,泰思肯,江苏省电镜会,电镜联用技术