第十届中国聚焦离子束技术及学术研讨会将于2019年11月13-15日在南京四方酒店举行。本届会议由中国电镜学会聚焦离子束(FIB)专业委员会主办，南京大学和南京南智先进光电集成技术研究院有限公司共同承办，邀请了众多国内FIB相关科研领域的知名科学家、研究者和工程师在材料科学、生命科学、物理学、化学化工、环境科学、地学等领域中的基础研究和应用研究等进行深度技术交流。

聚焦离子束（Focused Ion Beam, FIB）凭借其独特的微/纳尺度加工制造能力和优势，已成为多领域科技工作者不可或缺的工具之一。近年来FIB系统在我国的安装数量逐年攀升，从事FIB的科技人员也逐年增加。旨在为促进本领域各行业众多用户沟通交流，实现信息共享，提高我国科技人员在该领域的专业技术能力和应用研究水平，全国FIB技术及学术交流研讨会从2010年开始已连续成功举办了九届，分别是2010年由西安交通大学承办、2011年由北京大学和国家纳米科学中心联合承办、2012年由南京大学承办、2013年由天津大学承办、2014年由浙江大学承办、2015年由北京科技大学、2016年由重庆大学、2017年由兰州大学、2018年由中科院物理所承办（2015以后均联合西安开普纳信息科技有限责任公司共同承办），均得到非常好的交流效果，反响强烈，也越来越得到相关设备厂商的高度关注和支持。

在本次大会上，TESCAN 将隆重介绍在常规FIB-SEM基础上进一步发展起来的超高真空多束系统及其相关的技术和应用。FIB-SEM主要用于试样的微区加工、TEM薄片制备、试样内部观察和三维重构，TESCAN具有非常全面的FIB-SEM双束系统。无论是常规的Ga离子源系统，还是用于大体积快速切割的氙离子都有着自己鲜明的特点。不仅如此，TESCAN 定制化的 ExB 的离子镜筒，还有着非常特殊的功能和特点，离子枪可以选择多种不同元素作为离子源，以满足不同加工和分析的需要。另外，不仅仅是试样加工，TESCAN最先推出了FIB-SEM双束电镜和TOF-SIMS联用设备，为传统电镜的分析解决了诸多难题，这些全新的技术和案例是否也会为您带来全新的思路和尝试呢？我们的报告时间为 11月15日 8:30~9:05，大会次日的第一个报告，请一定不要错过！更值得一提的是，上海交通大学分测中心的张莹老师也将在大会上就"FIB和TOF-SIMS飞行时间二次离子质谱技术在材料表征中的应用"为题进行报告，报告时间为14日下午15:25~15:50。上海交通大学分测中心与TESCAN共建了联合实验室，已经引进了多台 TESCAN 的设备，其中 FIB-SEM+TOF-SIMS联用技术获得的分析结果为在SCIENCE， NATURE上发表高质量的文章提供了很大的帮助。同时，我们也欢迎您前来参观和访问我们同期的展位，全面了解我们的技术和产品，TESCAN 期待您的莅临！

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标签：FIB, 上海交通大学，TOF-SIMS