展品预览

超构透镜光学检测系统

MetronLens™

一款面向超构表面、超构透镜等新型微纳器件的光学检测系统

✔  3D光场分布+相位分布+远场分布

✔  400 - 1700 nm宽波段色/像差矫正

✔  光场扫描 ≤ 1 μm(min)/ ≤ 3 μm(typ.)

✔  相位精度 ≤ 40 mrad

显微角分辨光谱仪

ARMS

一款面向结构色、光子晶体、超构表面等微纳光子结构的显微角分辨光谱测量系统

✔  400 - 1650 nm超宽波段范围

✔  角度分辨率 ＜ 1.9 mrad @VIS,＜ 20 mrad @NIR

✔  采样区域 ≥ 10 μm

✔  透/反射、吸收、荧光等9种测量模式

更多看点

相约NO.14

复享光学展台

欢迎垂询 400-001-5686