低损耗光学元件的反射率和透射率的测定
低损耗光学组件的反射率值R> 99％和透射率值T> 99％可以通过腔衰荡时间测量非常精确地测量。与在光谱仪中进行测量相比，该方法具有三个主要优点：
Ø适用于非常高的反射率和透射率
Ø无法获得比实际值高的测量值
Ø它具有很高的准确性
Basic CRD Measurement Setup
基本CRD测量设置
Layertec随附各种腔衰荡系统，通过这些系统可以稳定地控制光学组件的质量。 有关更多详细信息，请参阅我们的目录内容“低损耗光学器件和腔衰荡时间测量简介”。
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相位优化的fs-Laser宽带镜-CRD测量示例
低损耗镜 - CRD测量示例
转向镜 - 宽带CRD测量示例
薄膜偏振片- CRD测量示例
