概  述

欧波同材料分析研究中心分析测试业务于年初正式上线，受到业内广泛关注。近期中心收到很多客户的咨询，询问一些特殊样品的制样方法或解决方案。我们根据客户咨询和反馈，整理了相关的案例分享给大家，希望能给大家点思路。

一、微纳米颗粒 （针对200μm以下样品） 

应用范围：微纳米材料内部结构分析例    如：锂电池阳极材料、微纳米颗粒

颗粒类的样品多数利用扫描电镜检测形貌、粒度统计、能谱并做一些长度测量，但是一旦涉及内部结构观察普通制样方式很难达到要求。

制样方式	缺点
研钵研磨/刀片压碎	只能看到断面的情况，而且成功率不高，电镜观察需要费时寻找
镶嵌包埋	需要机械抛光，容易脱落；耗时；需考虑镶嵌料对样品影响

举例来讲，图1是客户要求观察颗粒表面和断面形貌，研钵研磨后，结果并不理想，视野内可见大量碎裂颗粒，且断面情况各异更无法进行测量等工作。

图  1

图2是用Gatan Ilion II设备抛光后结果，可见视野内颗粒全部切开，截面平整，易于观察测量；图3为局部放大，颗粒内部结构一览无余。

图  2

图  3

二、多层复合材料/镀层/高分子薄膜

应用范围：分层材料、薄膜或其他柔性材料例    如：锂电池隔膜、镀层等多层复合材料其实在我们生活中应用极为广泛，比如各种触摸屏。这类材料主要看截面分层情况，但是由于其柔性大，普通方式比如剪切、液氮脆断等都会导致分层扭曲、断面不齐整等问题，影响后续用电镜进行分层测量。举个例子-样品为电池极板（图4、图5）：

图4是剪刀剪切后的电镜结果，可以看到由于剪切力的影响，层次不够分明，无法进行精确测量，无法提供有效的信息。

图  4

图5为Gatan Ilion II抛光后结果，层次清晰，可进行精确测量。

图  5

三、电子元器件

应用范围：各类微元器件

电子元器件由于其越来越微小、越来越复杂，其失效时很难定位，也很难用普通手段看清其内部结构（图6）。图中结果用Ilion II 进行处理，局部放大图片能够看到几十个nm结构，后续进行分析带来极大便利。

图  6

我们再来看一例（图7）

图  7

红框1局部放大，可见有10层结构

图  8

红框2局部放大，一目了然

图  9

后  记

以上是小编本期分享的内容，希望对大家有帮助，最后是广告时间。

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领域：地矿/钢铁/有色金属,电子/电器/半导体,汽车/铁路/船舶/交通,航空/航天,机械设备,纳米材料,高分子材料

标签：OPTON,微观世界,氩离子抛光,制样经验,欧波同