TESCAN 赞助出席 “2018北京市电镜年会” !——All-In-One微分析综合解决方案

2018-12-20 17:11

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2018年12月18日,2018年度北京市电子显微学年会在北京天文馆4D科普剧场召开,会议聚集了北京及周边地区200余名电子显微学领域的专家和学者们,共同交流电子显微学新技术、新方法和新应用。

作为全球电子显微镜及聚焦离子束领域的技术引领者和创新者,TESCAN应邀出席此次年会,介绍了TESCAN在显微学领域的最新技术进展。

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2018年度北京市电子显微学年会会场

电子显微镜目前的主要发展方向是在:高分辨能力、原位观测能力和综合分析能力。TESCAN作为全球知名的电镜显微分析仪器的制造商,提出了“All-In-One 综合显微分析平台”的理念,给出了完善的解决方案。

在学术年会上,TESCAN中国市场部经理顾群带来了题目为“TESCAN微分析综合解决方案”的精彩报告,向参会人员介绍了TESCAN近年来在显微领域的技术突破和创新。

除了向参会专家详细展示和讲解TESCAN微分析综合解决方案之外,顾经理还特别提到了TESCAN于2018年先后发布的四款电子显微镜新品。截至目前,第四代电镜产品S8000系列和S9000系列产品线均已发布齐全。未来,TESCAN其他系列的第四代电镜也将持续问世。

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TESCAN中国市场部经理顾群精彩分享

关于第四代电子显微镜产品的命名,顾经理提到,“TESCAN的第四代电镜采用全新的命名方式,在新系列电镜命名中,“S”代表“SEM”,以字母“G”结尾的型号代表镓离子源的双束FIB系统,以字母“X”结尾的型号则代表氙等离子源的双束FIB系统。

目前,TESCAN已发布的第四代电镜S8000系列和S9000系列分别包括:S8000高分辨型热场发射扫描电镜,S8000G高分辨型Ga-FIB,S8000X高分辨型 Xe Plasma-FIB;S9000超高分辨型热场发射扫描电镜,S9000G超高分辨型Ga-FIB,S9000X超高分辨型Xe Plasma-FIB等系列型号。

谈及第四代电镜产品名称变化如此之大的原因时,顾经理解释道,“命名规则的变化,其中最主要的原因之一是方便客户识别和记忆。在TESCAN以往的产品系列中,多以星座名称为基准来命名电镜型号,但随着TESCAN全球化的迅速扩张,新的产品名称将能够更好的为客户提供便利。”

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TESCAN 12月新发布电子显微镜新品系列

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