2009-7-30 10:11
| 2009年7月30日，中国科学院植物研究所分子发育生物学研究中心李银心研究员的博士研究生陈显扬一行到设立在旭月（北京）科技有限公司的“美国扬格非损伤技术中心”参观，实地观摩了非损伤微测系统。技术中心王文军工程师向陈显扬详细介绍了“非损伤微测技术”的基本原理，并就陈显扬实验内容和实验过程的细节问题进行了深入讨论。 陈显扬一直以来都很关注非损伤微测技术，此次参观极大增强了他应用非损伤微测技术开展研究工作的信心。他表示将尽快到技术中心进行测试实验，期待非损伤微测技术在转基因植物生理特性的研究中发挥重要作用。 中科院植物研究所李银心研究员简介 王文军工程师简介 |  |
