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Cylindrical four point probe head 探头

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jandel半导体专用检测仪器设备,

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一、参数

  1. 铝合金外壳,宝石上下导向

  2. 经久耐用的碳化钨探针

  3. P.T.F.E绝缘材料避免漏电

  4. 电子压力计精确控制下压力

  5. 针尖半径和针间距由光学验证提高精度

  6. 探针压力可调

  7. 针尖间距0.5mm ,0.635mm,1mm,1.27mm,1.591mm
    公差
    ±10μm
    排列线性或者方形排列
    探针Φ=0.4mm碳化钨(可选50%锇合金)
    针尖半径12.5μm,25μm,40μm,100μm,150μm,200μm,300μm,500μm
    绝缘性收缩性0.5mm
    平面度优于±0.025
    压力低:10~30g;中:30~60g;高:60~150g
    漏电针尖间电阻1013Ω@500V


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