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最新的创新检测技术大大提高了食品 X 射线检测敏感度

2018.2.27
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陈世云

致力于为分析测试行业奉献终身

November 03, 2015 -

市场领先的 X 射线检测系统改善了污染物检测性能

在当今快速发展和不断变化的市场中,持续创新是一个公司获得成功的关键。

梅特勒-托利多 X 射线检测部门在研发方面投入大量精力物力,我们致力于为客户将创新转化为实际价值。 客户反馈对我们来说非常重要,我们的行业专家和工程师与新老客户紧密合作,以期设计出符合其要求的 X 射线质量保证系统。

X 射线检测行业在过去几年中发展非常迅猛,我们的最新创新(尤其是全新的检测技术和增强的软件算法)可提供更高的检测水平,并且可在更高速的生产线上运行。

 

 

高敏感度检测技术确保卓越的产品检测

检测技术的最新开发成果可大幅减少 X 射线发射器耗电量,尤其是对于低密度包装。

全新的 0.4 毫米高敏感度检测技术可集成更低功率 (100W) 的 X 射线发生器,能够提供同等甚至更高的检测水平,而在普通运行条件下能耗降低可达 20%。

除了降低 X 射线检测系统的总拥有成本 (TCO) 之外,能耗降低还意味着无需空气调节,从而使得 X 射线机柜能够完全密封,能够承受严酷的高温冲洗流程。

这种 0.4 毫米高敏感度检测器最初将在 X36 系列 X 射线质量保证系统中使用,非常适用于检测各种尺寸包装食品中的各种污染物。 此外,处理速度也非常快,这意味着生产员工运行的生产线每分钟可操作多达 1000 件包装。

全新的用户友好型软件大大提高检测敏感度

我们还在用户使用和功能方面对我们业界领先的软件进行了改善。 我们的最新软件增强了检测算法,因此提高了污染物检测水平,该软件将五个不同的检测工具融合为一,使得操作人员设置和使用起来更加简便。

该软件可以最大程度延长运行时间,有助于符合全球食品安全规范,非常适用于可能在包装内发生翻滚的多质地食品或产品的检测,如盒装麦片、袋装混合坚果或者叠装薯片筒。


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