应用案例

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快速区分单层与多层石墨烯

nanphoton石墨烯案例

激光源：532nm。

物镜：100X，NA=0.9。

光谱数：67，600（400*169）。

测量时间：5分30秒。

通过高速高分辨拉曼成像技术，可以对不同层数的石墨烯快速成像。

以350纳米的高空间分辨率，仅用5分钟的测量时间即可识别从单层到四层的石墨烯及其分布。^[1] 

材料应力分布

nanphoton应力分布案例

图像分辨率：320(x)×400(y)=128,000 Spectra。

成像时间：16分钟。

通过高速高分辨拉曼成像技术，可以探测到晶体结构的扭曲，如硅材料等。硅的Raman峰位于520cm。硅单晶中由于应力的作用，会造成晶格结构的偏离与扭曲。右图通过测量Raman峰的偏离，进而给出了硅单晶表面应力的分布。^[2] 

无损伤材料组分剖面分析

nanphoton无损剖面分析案例

图像分辨率：300(x)×120(z)=36,000 Spectra。

成像时间：8 分钟。

右图是通过高速高分辨拉曼成像技术的无损探测技术，对多层膜进行的深度剖析。通过联用共聚焦光学系统与面扫描技术，可以成功地探测到深度图像。^[3]