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致力于为分析测试行业奉献终身
主要指标:
功率50KV*40mA最小步长 0.0001测量角度范围1-120仪器角度分辨率+/-0.0001功能及应用范围:X射线衍射仪可对样品进行结构参数分析，如物相定性与定量分析，衍射谱的指标化及点阵参数测定，晶粒尺寸及点阵畸变测定，粉末衍射图谱拟合修正晶体结，结构分析，结晶度测定，此外还可进行高低温下的结构变化的动态分析等。主要附件:HTK1200单位、地址:化学系绿色化学实验室B104室 联系人、电话: 薛青松 62232753
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