自吸收校正背景的方法，是利用空心阴极灯在较小的灯电流下，灯内溅射出的基态原子得以充分激发，发射的谱线自吸收现象较轻，用于原子吸收测量,即在小电流下测定原子吸收和背景吸收之和（AA+BG）；当加大灯电流时，灯内溅射作用加剧，出现大量未激发的基态原子，这些基态原子对灯发射的谱线产生原子吸收，导致谱线自吸收变宽，中心波长能量下降（也称自蚀），测定灵敏度降低。利用这种自吸收变宽，测定灵敏度低的谱线测量背景吸收。
一般情况下，灯内的自吸收现象不能达到完全不产生原子吸收的程度。即大电流测定背景吸收（BG）和微量的原子吸收（AA）。于是，利用自吸收校正背景时测定灵敏度有所降低，即校正过度。提高灯电流的高电流部分的电流值，是提高自吸收校正背景时的测定灵敏度的有效手段。
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