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HT-7上基于软X射线能谱诊断的电子加热实验研究

2018.7.25
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温洁

致力于为分析测试行业奉献终身

HT-7上软X射线能谱诊断所使用的硅漂移探测器(SDD)采用peltier效应制冷,体积紧凑,在短的成形时间下具有高的能量分辨率,非常适合在托卡马克上布置空间多道诊断。软X射线能谱不仅是测量温度的常规诊断,在HT-7所开展的兆瓦(MW)加热功率实验下,它同样是不可或缺的重要诊断,利用它对欧姆加热、低杂波(LHW)加热以及离子伯恩斯坦波(IBW)和低杂波协同加热三种情况下的电子加热进行了实验研究,

诊断/x射线能谱/电子加热
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