| 测量结果准确性好 |  | ||
| 测量原理为全程Mie Scattering理论，结合本公司独特的反演算法，加之精密的机械、光学系统设计、先进的电子元器件，在理论和性能上保证了测量结果的准确性。 | |||
| 测量范围宽 | |||
| 前向散射光接收采用本公司专利技术交叉扇形大尺寸主光电探测阵列（70个通道）、高灵敏度双侧向光电探测阵列（每侧4个通道），使单透镜测量范围达0.1～600μm，可测量D50从300～400nm直至400～500μm的众多样品，以满足大多数用户对粒度测量范围的需要。 | |||
| 测量重复性好 | |||
| 仪器设计采用高灵敏度光电探测阵列，低噪声信号放大器，高位模拟数字转换器，保证电路部分噪声降至最低。使用进口半导体激光器（寿命长达25000小时）及本公司自行研制的激光准直系统，激光光斑能量分布均匀，形状规则。进样系统具有转速调节装置，保证样品在测量窗口中分布均匀。以上种种措施确保仪器测量结果具有良好的重复性。 | |||
| 测试速度快 |  | ||
| 高速采样系统，采样速度达到4500次/秒；全隔离USB2.0通讯接口，提高了通讯速度；采用微量进样系统，样品制备过程简单，清洗速度快。一般在20秒之内，就可以完成一次测试过程。 | |||
| 测量软件功能完备 | |||
| 仪器采用电脑进行实时控制，自动完成数据采集、分析处理、结果保存和打印等功能,操作简单,自动化程度高。测量软件具有SOP功能，数据库功能以及多种数学模型，功能完备，操作简单，易学易用。 |
1.基本功能：样品测试、保存/打印、分析报告等。
2.高级功能：
1)sop功能：对常用的样品制备方式、样品参数、分散剂参数、测试参数等数据进行归纳，保存成SOP文件，如需要对此样品进行测试，可以直接调用此SOP文件并启动SOP测量方式，方便用户测量，无需另行输入相关测试参数。
2)自动标定系统：激光颗粒分布测量仪具有国内独创的数据自动标定系统，本系统可根据已知的标准样品的数据，对仪器进行自动标定。
3)数据库功能：可将常用的样品及分散剂折名称、折射率、吸收率、样品的制备信息等保存到数据库中，以方便下次直接调用，无需另行输入。
4)截图功能：若仪器出现故障导致采样图形杂乱，可截取当前状态屏幕图像传给调试工程师，方便指导故障排除及维修。
3.报告存储模式：专用的GSL格式（仅限测试软件打开）、PDF格式、BMP格式、EXCEL格式。
4.语言：中、英文切换。
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1.电源设计：具有EMI防电磁干扰、防雷击 、防浪涌等设计功能，提高了对供电电源的适应性，同时也可以有效地避免由于雷击、过压等情况可能造成的仪器意外损坏。
2.高速采样，高精度AD变换系统，保证了对微量样品的精确分析。
3.全隔离高速USB2.0通讯接口，与电脑通讯速度可以达到468000kB，通讯速度快，采用隔离供电，抗干扰性强，同时避免了劣质电脑对仪器的伤害。
4.全半导体器件硬件设计，仪器开机后，无需预热时间，即可达到稳定的测试效果。
5.仪器内置温、湿度检测装置，实时检测仪器内部的温度，湿度变化，避免由于温、湿度造成的测量结果偏差。
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