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AFM与扫描电镜的区别

2018.7.31
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JMCA

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与扫描电镜的区别


可能有的人会问了,既然是测试材料表面的结构与形貌,SEM也是可以的,但是这二者的区别又在哪呢?


不同于SEM只能提供二维图像,AFM提供真正的三维表面图。同时,AFM不需要对样品的任何特殊处理,如镀铜或碳,这种处理对样品会造成不可逆转的伤害。其次,SEM需要运行在高真空条件下,AFM在常压下甚至在液体环境下都可以良好工作。这样可以用来研究生物宏观分子,甚至活的生物组织。和SEM相比,AFM的缺点在于成像范围太小,速度慢,受探头的影响太大。当然二者的工作原理也是不同的,SEM是利用电子与物质的相互作用。


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