扫描电镜（SEM）和颗粒表征
如上所述，扫描电镜（SEM）对 AM 工艺制造的产品的表面进行成像和表征。 另外，对于粉末材料的表征，可以使用专用软件，例如由飞纳电镜开发的颗粒统计分析测量系统（ParticleMetric）。
该软件可以自动检测扫描电镜样品上存在的颗粒，并通过测量几种最重要的物理性质，如尺寸，形状，圆度，长径比等来准确表征它们。这些物理数值需要检查和分析大量颗粒，因此这些自动执行的表征过程就显得非常重要，可以有效提高测试者的工作效率。
另外，扫描电镜（SEM）可以通过使用所配备的能量色散X射线光谱仪（EDX）检测粉末材料的化学特性。 将扫描电镜（SEM）的 EDX 探头应用于 AM 工艺中，操作员可以准确检测和量化样品中存在的元素。
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