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SEM样品破坏的原因

2018.8.22
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JMCA

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样品破坏的原因

 

样品的破坏与加速电压有关,灯丝产生的电子可以与样品原子中的电子相互作用。如果样品中的价电子(可以参与形成化学键的电子)碰巧从原子中被激发,它将留下一个电子空位。该电子空位必须在100飞秒内被另一个电子填充,否则化学键将被破坏。

 

在导电材料中,这不是问题,因为电子空位填充在1飞秒(fs)内。但是对于非导电材料,可能需要多达几微秒来填充电子空位,从而导致样品化学键被破坏,进而改变材料的化学性质。


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