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致力于为分析测试行业奉献终身
近年来,随着科技的发展和材料尺寸的不断缩小,扫描电镜(SEM)已经成为一种非常有价值的表征方法。SEM作为一种通用的工具,方便用户可以对各种各样的材料进行多种不同类型的分析。为获得更好的结果,用户应该仔细设定SEM参数。其中一个设置是束斑直径,即照射在样品上的电子束直径。在这篇博客中,阐述了如何在SEM中调整束斑直径,以及如何在高分辨率成像和大束流之间实现平衡,以获得zui佳结果。