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新品速览 耶拿、JEOL将在Pittcon展发布ICP-MS、TOC、GC等新品

2019.3.13
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梦幻般的艾克西利欧

Nothing is ture, Everything is permitted

  分析测试百科网讯 举世瞩目的Pittcon 2019即将在美国最古老的城市之一费城召开。分析测试百科网一如既往为您带来Pittcon会议的最新信息。

  首先是德国耶拿新品速览。

Analytik Jena.jpg

  在今年的Pittcon上,德国耶拿凭借一系列高性能仪器以及足以获奖的支持和服务开启了新一年的征程。精确而准确的分析仪器,无论是在质量控制,研究还是常规测试领域,都能提供更好的使用体验。耶拿正在改变AAS,ICP-OES,ICP-MS,TOC和元素分析仪的使用方式。耶拿的目标是开发并包含客户反馈,以便为工业应用提供最佳解决方案。耶拿所有的分析仪都经过精心设计,可通过各种升级以及根据客户的个性化需求量身定制。

  作为分析测试领域不可或缺的设备提供商,日本电子(JEOL)也将在Pittcon发布两款全新产品。

JEOL.jpg


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